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APD集成式老化系统用于光通讯行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件靠得住性评估和老化筛选，最多支持3072pcs的单次老化。该系统能够提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化前提，同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控，并自动进行产品失效判断。实时贮存监控数据，支持对老化失效器件追忆，可能有效的提升TO出产的效能和靠得住性，能够极大的提高器件测试的产量和质量。
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suncitygroup太阳集团EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及靠得住性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化，通过表部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温，为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司EML TO盘测系统，显著提高测试效能和TO产品质量。
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suncitygroup太阳集团APD台式老化监控电源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件，提高器件的品质。该系统通过给APD提供恒流、PIN提供反偏压，TIA 提供恒压来达到对器件工作老化。同时共同独立客供老化箱可节造器件工作环境温度，达到高温下工作老化的职能。在老化过程中，对器件的TIA工作电流以及APD 电压进行实时监控测试，并对测试数据进行纪录，可对老化失效器件进行追述，单台独立老化64颗APD器件。
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