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VCSEL晶圆测试机

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数据通讯VCSEL晶圆测试

suncitygroup太阳集团光通讯VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试 ，支持芯片的LIV、光谱有关参数的测试 ，视觉自动鉴别 ，全自动实现每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试 ，高温测试温度可由用户自定。兼容多种分歧尺寸的Wafer ，向用户盛开丈量数据库 ，用于后续筛分工序。

激光雷达VCSEL晶圆测试

suncitygroup太阳集团高功率VCSEL测试机用于垂直腔面发射类型激光器芯片的Wafer测试 ，支持100ns级脉宽最大30A电流的LIV、光谱、近场、远场有关参数的测试 ，视觉自动鉴别 ，全自动实现每一颗芯片的测试；支持Chuck设置25~85℃温度测试。标配6inch Wafer测试 ，兼容2、4inch晶圆及破片测试 ，向用户盛开丈量数据库 ，用于后续筛分工序。

COC抽屉式老化系统

suncitygroup太阳集团 抽屉式COC 老化系统（PSS LRS13841） ，常用于 DFB、EML、EML-SOA 类型芯片的老化筛选以及寿命靠得住性分析。系统支持恒流（LD&SOA）、恒压（EA）同步输出 ，实时监测电流、电压、光功率、温度等数据 ，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库 ， 可对失效器件数据分析追忆。

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